T8200PRO-G는 Testram Japan의 최고의 RFID 종합 테스터입니다. RFID, 스마트 카드(비접촉 및 이중 인터페이스), 전력 인덕터의 개발 및 제조, 과학 연구 및 교육, 실험실 또는 테스트 기관에 적합하며 자동화된 생산 라인에 쉽게 통합됩니다.
※ 다양한 크기의 LF 및 HF 장치에 대한 다양한 크기의 매개변수를 정확하게 측정하려면 다음이 포함됩니다.
공진 주파수, 감쇠, Q 값, UID 코드 읽기 및 일부 칩 인식 지원.
※ 전송 또는 반사 특성(방향성 결합 포함), 조정 가능한 RF 입력 전력, 아날로그 카드 리더기 테스트가 가능합니다.
※ 테스트 결과 및 파형을 자동으로 로그 파일에 기록할 수 있습니다.
※ 샘플의 적격 여부를 결정하기 위해 미리 설정된 테스트 범위입니다.
※ 단일 컴퓨터 버전(일회용) 및 온라인 자동화 솔루션(대량 생산용).
※ 스마트 카드, RFID 태그 공진 주파수 감지:
측정 결과가 올바른지 여부를 알려줍니다. 점검 로그 파일을 자동으로 생성합니다.
조정 가능한 RF 전력 -30dBm~15dBm.
듀얼 인터페이스 카드 코일 인레이와 같은 칩 바인딩 전에 RF 안테나를 감지할 수 있습니다.
※ RFID 읽기/쓰기 안테나 공진 주파수 감지.
※ 무선 전원 코일 및 파워 인덕터의 자기 공진 주파수 검출.
테스트 원리 | 자기 결합을 통한 비접촉 공진 주파수 |
측정 모드 | 투과/반사 특성 |
테스트 항목 | 공진주파수, 감쇠량, Q값, UID, 칩타입(부품) |
규약 | ISO14443A(MIFARE 클래식, MIFARE 초경량)ISO14443B(PUPI만 해당), Felica ISO15693(태그잇 HF-I Plus/Pro, ICODE SLIX2) |
데이터 포인트 | 100~2048포인트 |
테스트 시간(데이터 포인트=1000) | ID 판독 미포함: 0.5초(일반)ID 판독 시: 1초(일반) |
로그 파일 | 로그 파일(csv):UID, 합격/불합격, 공진 주파수, 감쇠, Q 값 파형 형식: csv, jpg |
주파수 범위 | 10KHz~100MHz |
적용 전원(50Ω 부하) | -30~15dBm |
DIO 인터페이스(옵션) | 절연된 입력/출력 |
시스템 요구 사항 | PC(OS) Windows7, Windows8.1, Windows10≥USB2.0 |
전원공급장치 | USB 버스 전원(소비 전류 ≤500mA) |
포장 목록 | 본체, USB 케이블, 동축 케이블(500m x2), 고주파 표준 카드 크기 테스트 픽스처, 안테나 플레이트 테스트를 위한 다양한 크기 사양 옵션, CD 설치 |
용적 중량 | 125(W)x165(D)x40(H)mm, 돌출부 제외, 0.8kg |