LFおよびHFスマートカード、RFIDインレイ/タグ、NFCおよびインダクタのRF性能検査
T8200PRO-G は、テストラムジャパンのトップクラスの RFID 総合テスターです。RFID、スマート カード (非接触およびデュアル インターフェイス)、パワー インダクタの開発と製造、科学研究と教育、研究所または試験機関に最適であり、自動化された生産ラインに簡単に統合できます。
※ さまざまなサイズの LF および HF デバイスのパラメータを正確に測定します。以下が含まれます。
共振周波数、減衰、Q 値、UID コードの読み取りと一部のチップの認識のサポート。
※ 送信または反射特性（方向性結合を含む）、調整可能なRF入力電力、アナログカードリーダーをテストできます。
※ テスト結果や波形をログファイルに自動で書き込むことができます。
※ サンプルが適格であるかどうかを判断するための試験範囲を事前に設定します。
※ シングルコンピュータ版（単独使用）とオンラインオートメーションソリューション（量産用）。
※ICカード、RFIDタグの共振周波数検出：
測定結果が正しいかどうかを伝えます。チェックログファイルを自動的に生成します。
調整可能なRFパワー-30dBm〜15dBm。
RF アンテナは、デュアル インターフェイス カードのコイル インレイなどのチップ バインディング前に検出できます。
※ RFID読み取り/書き込みアンテナ共振周波数検出。
※ワイヤレス給電コイルとパワーインダクタの自己共振周波数検出。
| 試験原理 | 磁気結合による非接触共振周波数 |
| 測定モード | 透過・反射特性 |
| テスト項目 | 共振周波数、減衰量、Q値、UID、チップタイプ（部位） |
| プロトコル | ISO14443A (MIFARE Classic、MIFARE Ultralight)ISO14443B（PUPIのみ）、Felica ISO15693（タグイット HF-I Plus/Pro、ICODE SLIX2） |
| データポイント | 100～2048点 |
| テスト時間 (データポイント=1000) | ID読み取りなし：0.5秒（標準）ID読み取り時：1秒（標準） |
| ログファイル | ログファイル(csv):UID、PASS/FAIL、共振周波数、減衰量、Q値 波形形式：csv、jpg |
| 周波数範囲 | 10KHz～100MHz |
| 適用電力（50Ω負荷） | -30~15dBm |
| DIOインターフェース（オプション） | 絶縁入出力 |
| システム要求 | パソコン(OS) Windows7、Windows8.1、Windows10≥USB2.0 |
| 電源 | USBバスパワー（消費電流≦500mA） |
| 梱包リスト | 本体、USBケーブル、同軸ケーブル(500m×2)、高周波標準カードサイズ試験治具、アンテナプレート試験用オプション異サイズ仕様、インストールCD |
| 寸法 重量 | 125(W)x165(D)x40(H)mm、突起物含まず、0.8kg |
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