LF & HFスマートカード、RFIDインレイ/タグ、NFC、インダクタのRF性能検査
T8200PRO-Gは、テストラムジャパンの最高級RFID総合テスターです。RFID、スマートカード（非接触型およびデュアルインターフェース）、パワーインダクタの開発・製造、科学研究・教育、研究所や試験機関などに最適で、自動化された生産ラインへの統合も容易です。
※ さまざまなサイズの LF および HF デバイスのさまざまなサイズのパラメータを正確に測定します。これには次のものが含まれます。
共振周波数、減衰、Q 値、UID コードの読み取りと一部のチップの認識をサポートします。
※ 伝送特性または反射特性（方向性結合を含む）をテスト可能、調整可能な RF 入力電力、アナログ カード リーダー。
※テスト結果と波形をログファイルに自動で書き込むことができます。
※サンプルが適格かどうかを判断するためのテスト範囲を事前に設定します。
※ シングルコンピュータバージョン（単一使用向け）とオンライン自動化ソリューション（大量生産向け）。
※スマートカード、RFIDタグ共振周波数検出：
測定結果が正しいかどうかを通知します。チェック ログ ファイルを自動的に生成します。
調整可能な RF 電力 -30dBm ～ 15dBm。
デュアルインターフェースカードのコイルインレイなど、チップ結合前に RF アンテナを検出できます。
※ RFID読み取り/書き込みアンテナ共振周波数検出。
※ワイヤレス給電コイルとパワーインダクタの自己共振周波数検出。
| テストの原則 | 磁気結合による非接触共振周波数 |
| 測定モード | 透過/反射特性 |
| テスト項目 | 共振周波数、減衰量、Q値、UID、チップタイプ（部品） |
| プロトコル | ISO14443A (MIFARE Classic、MIFARE Ultralight)ISO14443B（PUPIのみ）、Felica ISO15693（Tag-it HF-I Plus/Pro、ICODE SLIX2） |
| データポイント | 100～2048ポイント |
| テスト時間（データポイント=1000） | ID読み取りなし: 0.5秒（標準）ID読み取り時: 1秒（標準） |
| ログファイル | ログファイル（csv）：UID、合否、共振周波数、減衰、Q値 波形形式: csv、jpg |
| 周波数範囲 | 10KHz～100MHz |
| アプリケーション電力（50Ω負荷） | -30～15dBm |
| DIOインターフェース（オプション） | 絶縁入力/出力 |
| システム要件 | PC(OS) Windows7、Windows8.1、Windows10≥USB2.0 |
| 電源 | USBバスパワー（消費電流≤500mA） |
| パッケージリスト | 本体、USBケーブル、同軸ケーブル（500m×2）、高周波標準カードサイズテストフィクスチャ、アンテナプレートテスト用オプション各種サイズ仕様、インストールCD |
| 寸法 重量 | 125(W)x165(D)x40(H)mm、突起部含まず、0.8kg |
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